当社ホームページ掲載測定例の第四弾です。

サーマルマクロスコープなら従来困難だった微小サイズ粒子も自在に測定できます。




粒子サイズは約100μmです。粒子はSiC(シリコンカーバイド）です。
SiCは次世代半導体材料（ワイドバンドギャップ半導体）、研磨用砥粒などに利用されますが粒子状材料の熱伝導率測定は以前は困難でした。

当社のサーマルマイクロスコープＴＭ３は、
薄膜の熱伝導率（100nm～）、
微小領域の熱浸透率（3μm～）の測定ができる装置です。

測定依頼は、
株式会社ベテル、下記メールアドレスまでご連絡ください。
k-hatori@bethel.co.jp