しばらく当社のホームページに掲載されております、
測定例をご紹介していきます。

サーマルマイクロスコープによる、
半導体レーザの電極部評価例を紹介します。




Au電極部の下にAl2O3の絶縁膜が存在する部分と
そうではない部分がありますが、
サーマルマイクロスコープにより評価することで
熱浸透率の違いが観察されています。

これは、絶縁層による放熱性低下を可視化したことになります。

当社のサーマルマイクロスコープＴＭ３は、
薄膜の熱伝導率（100nm～）、
微小領域の熱浸透率（3μm～）の測定ができる装置です。

測定依頼は、
株式会社ベテル、下記メールアドレスまでご連絡ください。
k-hatori@bethel.co.jp