株式会社ベテルは、熱物性測定に関連して、
下記、依頼試験を承っております。
もちろん単独でのご利用も可能です。

走査型電子顕微鏡観察(SEM) 二次電子像観察


（１）1試料2画像まで 15,000円
（２）1画像ごとに 5,000円

通電処理
（１）1バッチ目8,000円
（２）2バッチ目以降4,000円xバッチ数
　　　　（～7バッチまで）

*スパッタリング、Moのみ、Mo膜の厚みは指定できません。
*走査型電子顕微鏡観察用の割引価格です。スパッタリング単独でもお受けいたします。（別価格）



スパッタリング


基本料金
（１）1バッチ目15,000円
（２）2バッチ目以降7,500円xバッチ数
　　　　（～7バッチまで）

目標厚み
100nm～299nm　基本料金の1倍
300nm～599nm　基本料金の1.3倍
600nm～1000nm　基本料金の1.5倍

*スパッタリング、Moのみ、Mo膜の厚みは目標値です。

詳細内容につきましては、
お問い合わせください。

依頼試験は、
株式会社ベテル、下記メールアドレスまでご連絡ください。
k-hatori@bethel.co.jp