今回は半導体にはかかせないSiウェーハの測定事例の紹介です。
今回の測定事例はお客様からの依頼ではなく、弊社で入手したSiウェーハ(5種)の測定紹介ですので、あくまで参考程度とお考えください。

測定したのは下記の5種類。それぞれp型/n型、ドープ量などが違うものです。
 ①ケイ素<0.02Ωcm/P,Low,100
 ②ケイ素>1000Ωcm/P,High,111
 ③ケイ素<0.02Ωcm/N,Low,100
 ④ケイ素<0.02Ωcm/N,Low,111
 ⑤ケイ素>1000Ωcm/N,High,111

Siウェハー



当社のサーモウエーブアナライザーTAで測定しますと、

熱伝導率(熱拡散率)

 ①約120W/mK(74mm2/s)
 ②約140W/mK(87mm2/s)
 ③約120W/mK(76mm2/s)
 ④約120W/mK(75mm2/s)
 ⑤約140W/mK(87mm2/s)

   *熱伝導率は熱拡散率の測定値と比熱と密度の文献値から計算。

という結果です。
熱伝導率的には、p型/n型でそう大きな差はないようです。High、lowでは差が出るようですが。

以上、参考になりましたでしょうか?


当社のサーモウエーブアナライザーTAは、
熱伝導率の異方性がある材料でも、同一ワークで測定できる装置です。
測定依頼は、
株式会社ベテル、下記メールアドレスまでご連絡ください。
k-hatori@bethel.co.jp