2/17~2/19の3日間、
東京ビックサイトで開催されておりました、
nanotech 2010に当社も参加してまいりました。
今回は、
新製品を含め3点の製品を展示しました。
熱物性測定と、
熱を使った非破壊検査をテーマに展示しまして、
熱物性顕微鏡、
サーモウエーブアナライザー、
熱伝播検査装置の三点ですが、
すべての装置に、
なかなかの反響をいただきました。
当社のブースを簡単に紹介させていただきます。
正面からの画像
斜め前方からの画像
全体の来場者数が、
4万2千人と昨年の来場者数、
4万7千人にくらべて減少しましたが、
当社のブースに来場されたお客様は、
10%程度増えました。
ブースのデザインも好評で、
お蔭様で成功のうちに展示会を終えることができました。
ありがとうございました。
東京ビックサイトで開催されておりました、
nanotech 2010に当社も参加してまいりました。
今回は、
新製品を含め3点の製品を展示しました。
熱物性測定と、
熱を使った非破壊検査をテーマに展示しまして、
熱物性顕微鏡、
サーモウエーブアナライザー、
熱伝播検査装置の三点ですが、
すべての装置に、
なかなかの反響をいただきました。
当社のブースを簡単に紹介させていただきます。
正面からの画像
斜め前方からの画像
全体の来場者数が、
4万2千人と昨年の来場者数、
4万7千人にくらべて減少しましたが、
当社のブースに来場されたお客様は、
10%程度増えました。
ブースのデザインも好評で、
お蔭様で成功のうちに展示会を終えることができました。
ありがとうございました。