2011年03月04日

TSIで集積回路の半田付け不良箇所を可視化

TSIで集積回路の半田付け不良箇所を可視化した事例です。擬似的に半田付け不良箇所を作成し、 TSIで観察しています。不良箇所のピンで熱伝播が妨げられていることがわかります。当社の熱伝播検査装置TSIは、クラック・ボイドの可視化ができる装置です。測定依

2011年03月01日

第42回市村学術賞

弊社のサーマルマイクロスコープ及びサーモウエーブアナライザの共同開発者である、産業技術総合研究所の加藤英幸先生が平成２２年度第４２回市村学術賞　貢献賞に選ばれました。受賞者である加藤先生を中央に、右が先生の奥様、左はベテル副社長鈴木市村学術賞は、権

2011年02月27日

半導体素子には必ず熱雑音の問題が発生します。たとえば最近のカメラはほとんどがデジタルカメラとなっていますが、従来の化学的手法を用いた銀塩写真から、半導体素子を利用した方法となり、熱雑音の影響が避けられなくなってきています。微弱光を検出する場合、長

2011年02月26日

最近は家庭用のLED電球も発売されまして、目覚ましく普及しています。みなさんご存知の通り、白熱電球に比べて非常にエネルギー効率が高く、次世代の照明として注目されていますね。でも、LEDも発熱しますし、熱に弱いです。エネルギー効率が高いので意外な感じはし

2011年02月25日

サーモウェーブアナライザーでは、各種シート状材料の測定が可能です。グラファイトシート、ポリイミドシート、シリコン系熱伝導性シート、炭素系材料、その他樹脂シート等がありますが、これらの試料は異方性があるものが少なくありません。試料の異方性の把

2011年02月24日

サーモウェーブアナライザーでは、各種板状材料の測定が可能です。しかも、等方性の試料だけでなく、異方性のある試料の測定も可能です。外観としては、以上のような試料の測定が可能です。次にいくつか代表的な評価例を掲載します。当社のサーモウエーブ